Chroma 11805 可程序高頻交流測(cè)試器綜合設(shè)計(jì)非常適合各式使用于 高頻高壓環(huán)境下之電子零組件，如LCD Inverter 變壓器二次側(cè)線圈、高壓電容、SMPS主電源一 次側(cè)線圈等之高頻高壓試驗(yàn) ; 也適用于高頻大電 流的測(cè)試，如Ballast電感、Ballast電容、電解電 容或其他操作于高頻大電流環(huán)境的電子元件等。

Chroma 11805 可程序高頻交流測(cè)試器的特性：

• 高頻高壓耐久性測(cè)試(CV定電壓與CC定電流模式)
• 高頻耐壓測(cè)試(CV定電壓模式與CC定電流模式)
• 高頻崩潰電壓測(cè)試 (CV定電壓模式)
• 測(cè)試頻率: 20kHz ~ 1MHz
• 搭配不同的模組，寬廣的輸出電壓和電流範(fàn)圍 (客製化模組)
• 輸出電壓與電流監(jiān)測(cè)
• 可程式化輸出電壓波形控制
• 耐久性測(cè)試有計(jì)次或計(jì)時(shí)模式選擇
• 機(jī)體低電力消耗與低溫昇設(shè)計(jì)
• 大型LCD顯示(320*240點(diǎn)矩陣)
• 內(nèi)建數(shù)位式計(jì)時(shí)器